Počet záznamů: 1
Optical Near-Field Electron Microscopy
- 1.
SYSNO 0544249 Název Optical Near-Field Electron Microscopy Tvůrce(i) Marchand, R. (AT)
Šachl, Radek (UFCH-W) RID, ORCID
Kalbáč, Martin (UFCH-W) RID, ORCID
Hof, Martin (UFCH-W) RID, ORCID
Tromp, R. (NL)
Amaro, Mariana (UFCH-W) RID, ORCID
van der Molen, M. (NL)
Juffmann, T. (AT)Korespondující/senior Juffmann, T. - Korespondující autor Zdroj.dok. Physical Review Applied. Roč. 16, č. 1 (2021). - : American Physical Society Číslo článku 014008 Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant GX19-26854X GA ČR - Grantová agentura ČR, CZ - Česká republika Institucionální podpora UFCH-W - RVO:61388955 Jazyk dok. eng Země vyd. US Klíč.slova Electron microscopy * Image resolution * Optical imaging technique * Membrane Spolupracující instituce Universitat Wien
Kamerlingh Onnes LaboratoriumURL http://hdl.handle.net/11104/0321279 Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0321279 Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup 0544249.pdf 2 1.4 MB Vydavatelský postprint vyžádat
Počet záznamů: 1