Počet záznamů: 1
Imaging ferroelectric nanodomains in strained BiFeO3 nanoscale films using scanning low-energy electron microscopy: Implications for low-power devices
- 1.
SYSNO 0544223 Název Imaging ferroelectric nanodomains in strained BiFeO3 nanoscale films using scanning low-energy electron microscopy: Implications for low-power devices Tvůrce(i) Ma, Haili (UPT-D) SAI
Mikmeková, Šárka (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Konvalina, Ivo (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Yin, X. (CN)
Sun, F. (CN)
Piňos, Jakub (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Vaškovicová, Naděžda (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Průcha, Lukáš (UPT-D) ORCID
Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Mikmeková, Eliška (UPT-D) RID
Chen, D. (CN)Korespondující/senior Mikmeková, Eliška - Korespondující autor
Chen, D. - Korespondující autorZdroj.dok. ACS Applied Nano Materials. Roč. 4, č. 4 (2021), s. 3725-3733. - : American Chemical Society Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant TN01000008 GA TA ČR - Technologická agentura ČR, CZ - Česká republika Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 Jazyk dok. eng Země vyd. US Klíč.slova scanning low-energy electron microscopy (SLEEM) * BiFeO3 nanoscale films * ferroelectric nanodomains * low-loss backscattered electrons * multiferroic Spolupracující instituce South China Normal University (Čína) URL https://pubs.acs.org/doi/10.1021/acsanm.1c00204 Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0321265
Počet záznamů: 1