Počet záznamů: 1

Beam shaping and probe characterization in the scanning electron microscope

SYSNO	0543063
Název	Beam shaping and probe characterization in the scanning electron microscope
Tvůrce(i)	Řiháček, Tomáš (UPT-D)_{RID, ORCID} Horák, M. (CZ) Schachinger, T. (AT) Mika, Filip (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Matějka, Milan (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Krátký, Stanislav (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Fořt, Tomáš (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Radlička, Tomáš (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Johnson, C. W. (US) Novák, L. (CZ) Seďa, B. (CZ) McMorran, B.J. (US) Müllerová, Ilona (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Korespondující/senior	Řiháček, Tomáš - Korespondující autor
Zdroj.dok.	Ultramicroscopy. Roč. 225, June (2021). - : Elsevier
Číslo článku	113268
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Grant	TN01000008 GA TA ČR - Technologická agentura ČR, CZ - Česká republika
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	NL
Klíč.slova	Electron diffraction * SEM * Electron beam structuring * Spot shape measurement * Electron vortex beam
Spolupracující instituce	Central European Institute of Technology (Česká republika) Technische Universität Wien (Rakousko) Thermo Fisher Scientific (Česká republika) University of Oregon (Spojené státy americké)
URL	https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0304399121000589
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0320365

Počet záznamů: 1