Počet záznamů: 1
Determination of Composition and Thickness of MnSi and MnGe Layers by EDS.
- 1.
SYSNO 0541357 Název Determination of Composition and Thickness of MnSi and MnGe Layers by EDS. Tvůrce(i) Koštejn, Martin (UCHP-M) RID, SAI, ORCID
Fajgar, Radek (UCHP-M) RID, ORCID, SAI
Dřínek, Vladislav (UCHP-M) RID, ORCID, SAI
Jandová, Věra (UCHP-M) RID, ORCID, SAI
Novotný, F. (CZ)Korespondující/senior Koštejn, Martin - Korespondující autor Zdroj.dok. Journal of Nondestructive Evaluation. Roč. 39, č. 2 (2020). - : Springer Číslo článku 40 Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant GA18-15613S GA ČR - Grantová agentura ČR, CZ - Česká republika StrategieAV21/3, CZ - Česká republika Institucionální podpora UCHP-M - RVO:67985858 Jazyk dok. eng Země vyd. US Klíč.slova composition * area density * thickness Spolupracující instituce Vysoká škola chemicko-technologická v Praze (Česká republika) URL http://hdl.handle.net/11104/0318917 Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0318917 Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup 0541357.pdf 0 1.8 MB Autorský postprint povolen
Počet záznamů: 1