Počet záznamů: 1
TID and SEU testing of the novel X-CHIP-03 monolithic pixel detector
- 1.
SYSNO 0538009 Název TID and SEU testing of the novel X-CHIP-03 monolithic pixel detector Tvůrce(i) Marčišovská, M. (CZ)
Dudas, D. (CZ)
Havránek, M. (CZ)
Kabátová, A. (CZ)
Kafka, V. (CZ)
Kostina, A. (CZ)
Macková, A. (CZ)
Marcisovský, M. (CZ)
Mitrofanov, S. V. (RU)
Popule, Jiří (FZU-D) RID, ORCID
Romanenko, Oleksandr V. (UJF-V) [ONF] ORCID, SAI
Tomášek, L. (CZ)
Vrba, V. (CZ)Zdroj.dok. Journal of Instrumentation. Roč. 15, č. 1 (2020), s. 1-11. - : Institute of Physics Publishing Číslo článku C01043 Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant EF16_013/0001812 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 ; UJF-V - RVO:61389005 Jazyk dok. eng Země vyd. GB Klíč.slova radiation damage to detector materials (solid state) * radiation damage to electronic components * radiation-hard detectors * radiation-hard electronics URL https://doi.org/10.1088/1748-0221/15/01/C01043 Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0315849
Počet záznamů: 1