Počet záznamů: 1
High-Resolution Analysis Using Bent Perfect Crystal in Powder Diffraction: Part I
- 1.
SYSNO 0534293 Název High-Resolution Analysis Using Bent Perfect Crystal in Powder Diffraction: Part I Tvůrce(i) Mikula, Pavol (UJF-V) [ONF] RID, ORCID, SAI
Šaroun, Jan (UJF-V) [ONF] RID, ORCID, SAI
Stammers, James H. (UJF-V) [ONF]
Em, V. (RU)Korespondující/senior Mikula, Pavol - Korespondující autor Zdroj.dok. Journal of Surface Investigation-X-Ray Synchrotron and Neutron Techniques. Roč. 14, SUPPL 1 (2020), s. 146-150. - : Pleiades Publishing Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant LM2015048 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy LM2010011 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy LM2015056 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Institucionální podpora UJF-V - RVO:61389005 Jazyk dok. eng Země vyd. US Klíč.slova powder diffraction * focusing * bent crystal analyzer URL https://doi.org/10.1134/S1027451020070320 Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0312522
Počet záznamů: 1