Počet záznamů: 1

Nanoscale Estimation of Coating Thickness on Substrates via Standardless BSE Detector Calibration

SYSNO	0525112
Název	Nanoscale Estimation of Coating Thickness on Substrates via Standardless BSE Detector Calibration
Tvůrce(i)	Skoupý, Radim (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Fořt, Tomáš (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Krzyžánek, Vladislav (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI}
Zdroj.dok.	Nanomaterials. Roč. 10, č. 2 (2020). - : MDPI
Číslo článku	332
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Grant	GA17-15451S GA ČR - Grantová agentura ČR
	FV30271 GA MPO - Ministerstvo průmyslu a obchodu, CZ - Česká republika
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	CH
Klíč.slova	SEM * quantitative imaging * back-scattered electrons * standardless calibration * electron mirror * sample bias * Monte Carlo simulation * thin coating layers
URL	https://www.mdpi.com/2079-4991/10/2/332
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0309322

Počet záznamů: 1