Počet záznamů: 1  

Acquisition of the dopant contrast in semiconductors with slow electrons

  1. 1.
    SYSNO0525062
    NázevAcquisition of the dopant contrast in semiconductors with slow electrons
    Tvůrce(i) Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Hovorka, Miloš (UPT-D)
    El Gomati, M. M. (GB)
    Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Mika, Filip (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Mikmeková, Eliška (UPT-D) RID
    Korespondující/seniorFrank, Luděk - Korespondující autor
    Zdroj.dok. Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. Roč. 241, MAY (2020). - : Elsevier
    Číslo článku146836
    Druh dok.Článek v odborném periodiku
    Grant TE01020118 GA TA ČR - Technologická agentura ČR, CZ - Česká republika
    LO1212 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
    ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    606988, XE - země EU
    Institucionální podporaUPT-D - RVO:68081731
    Jazyk dok.eng
    Země vyd.NL
    Klíč.slova semiconductors * dopant contrast * low energy SEM * PEEM * mirror electron microscopy * surface treatments
    URLhttps://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S036820481830135X
    Trvalý linkhttp://hdl.handle.net/11104/0309284
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.