Počet záznamů: 1

Surface imaging with UHV SLEEM and SEM LEEM

SYSNO	0522221
Název	Surface imaging with UHV SLEEM and SEM LEEM
Tvůrce(i)	Mikmeková, Šárka (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Jánský, P. (CZ) Kolařík, V. (CZ) Müllerová, Ilona (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Zdroj.dok.	Microscopy and Microanalysis. Roč. 25, S2 (2019), s. 444-445. - : Cambridge University Press
Konference	Microscopy & Microanalysis 2019 Meeting, 04.08.2019 - 08.08.2019, Portland
Druh dok.	Abstrakt
Grant	TE01020118 GA TA ČR - Technologická agentura ČR, CZ - Česká republika
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	US
Klíč.slova	surface imaging * UHV SLEEM * SEM LEEM
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0306716

Počet záznamů: 1