Počet záznamů: 1  

Assessing the thickness error rate of quantitative STEM measurements

  1. 1.
    SYSNO0521571
    NázevAssessing the thickness error rate of quantitative STEM measurements
    Tvůrce(i) Skoupý, Radim (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Krzyžánek, Vladislav (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Zdroj.dok. MCM 2019. 14th Multinational Congress on Microscopy. Proceedings. S. 107-109. - Belgrade : University of Belgrade, 2019
    Konference Multinational Congress on Microscopy /14./, 15.09.2019 - 20.09.2019, Belgrade
    Druh dok.Abstrakt
    Grant GA17-15451S GA ČR - Grantová agentura ČR
    FV30271 GA MPO - Ministerstvo průmyslu a obchodu, CZ - Česká republika
    TN01000008 GA TA ČR - Technologická agentura ČR, CZ - Česká republika
    Institucionální podporaUPT-D - RVO:68081731
    Jazyk dok.eng
    Země vyd.RS
    Klíč.slova qSTEM * BSE signal
    Trvalý linkhttp://hdl.handle.net/11104/0306173
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.