Non-destructive depth profile reconstruction of single-layer graphene using angle-resolved X-ray photoelectron spectroscopy

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0520350
Název	Non-destructive depth profile reconstruction of single-layer graphene using angle-resolved X-ray photoelectron spectroscopy
Tvůrce(i)	Zemek, Josef (FZU-D)_{RID, ORCID} Houdková, Jana (FZU-D)_{RID, ORCID} Jiříček, Petr (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Ižák, Tibor (FZU-D)_RID Kalbáč, Martin (UFCH-W)_{RID, ORCID}
Korespondující/senior	Zemek, Josef - Korespondující autor
Zdroj.dok.	Applied Surface Science. Roč. 491, Oct (2019), s. 16-23. - : Elsevier
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Grant	CZ.02.1.01/0.0/0.0/16_019/0000760, XE - země EU
	EF16_019/0000760 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
	LM2015088 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
	GF16-34856L GA ČR - Grantová agentura ČR
	LTC18039 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
Institucionální podpora	FZU-D - RVO:68378271 ; UFCH-W - RVO:61388955
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	NL
Klíč.slova	single-layer graphene * Raman spectroscopy * X-ray-induced Auger electron spectroscopy (XAES) * angular-resolved core-level photoelectron spectroscopy (ARXPS) * maximum entropy method * concentration depth profile reconstruction
URL	https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2019.06.083
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0305033

	Název souboru	Staženo	Velikost	Komentář	Verze	Přístup
	0520350.pdf	1	910.5 KB		Vydavatelský postprint	vyžádat

Počet záznamů: 1