Počet záznamů: 1
Kelvin probe force microscopy
- 1.
SYSNO 0501462 Název Imaging charge distribution within molecules by scanning probe microscopy Tvůrce(i) Ondráček, Martin (FZU-D) RID, ORCID
Hapala, Prokop (FZU-D) RID, ORCID
Švec, Martin (FZU-D) RID, ORCID
Jelínek, Pavel (FZU-D) RID, ORCIDKorespondující/senior Jelínek, Pavel - Korespondující autor Zdroj.dok. Kelvin probe force microscopy. S. 499-518. - Cham : Springer International Publishing, 2018 / Sadewasser S. ; Glatzel T. ISBN 978-3-319-75686-8 Edice Springer Series in Surface Sciences Druh dok. Část monografie, knihy (kapitola) Grant GJ17-24210Y GA ČR - Grantová agentura ČR Praemium Academiae, CZ - Česká republika Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 Jazyk dok. eng Země vyd. CH Klíč.slova charge distribution * surfaces * molecules * Kelvin probe force microscopy * scanning quantum dot microscopy * high resolution atomic force microscopy Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0293485
Počet záznamů: 1