Počet záznamů: 1

In-situ diffraction measurements using the ISX-stage.

SYSNO	0487074
Název	In-situ diffraction measurements using the ISX-stage.
Tvůrce(i)	Pavlíček, Jiří (BTO-N)_RID Vellieux, Frédéric (BTO-N)
Druh akce	Workshop
Místo, datum	20170330, Vestec
Druh dok.	Uspořádání konference, workshopu, výstavy
Grant	LM2015043 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
	ED1.1.00/02.0109 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
Institucionální podpora	BTO-N - RVO:86652036
Jazyk dok.	eng
Klíč.slova	diffraction properties * crystals * crystallisation plates
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0281850

Počet záznamů: 1