Počet záznamů: 1  

Holografické měřidlo pro free form povrchy

  1. 1.
    SYSNO0486011
    NázevHolografické měřidlo pro free form povrchy
    Překlad názvuHologaphical device for measurement of freeform surfaces
    Tvůrce(i) Kredba, Jan (UFP-V) [TOPTEC] ORCID
    Lédl, Vít (UFP-V) [TOPTEC] RID
    Psota, Pavel (UFP-V) [TOPTEC] RID, ORCID
    Vojtíšek, Petr (UFP-V) [TOPTEC] RID
    Vyd. údaje2016
    PoddruhFunkční vzorek
    Int.kódDP0006-2016-FV2
    Technické parametryHolografické měřidlo osvětluje povrch z 16-ti směrů různými vlnovými délkami (v rozmezí 770nm - 850nm) a pomocí CMOS senzoru s velikostí 2016x2016 pixelů (velikost pixelu 3.1um x 3.1um) sbírá odražené a rozptýlené světlo od objektu. Na čipu se interferencí s referenční rovinnou vlnou vytváří digitální hologramy, které jsou pomocí algoritmů vyhodnoceny do podoby odchylky tvaru plochy od jejího nominálního předpisu.
    Ekonomické parametryMěření freeform povrchů bez nutnosti skenování povrchu. Vhodné pro broušené povrchy. Urychlení samotného měření i úkony s měřením spojené. Dosáhnutí větší efektivity výrobního řetězce.
    Název vlastníkaÚstav fyziky plazmatu AV ČR, v. v. i.
    Číselná identifikaceDP0006-2016-FV2
    Druh dok.Prototyp, metodika, f.vzorek, aut.software, apl.výzkum-normy, u.vzor
    Grant TA03010893 GA TA ČR - Technologická agentura ČR, CZ - Česká republika
    Institucionální podporaUFP-V - RVO:61389021
    Jazyk dok.cze
    Země vyd.CZ
    Klíč.slova Form measurement * digital holography * freeform surfaces * multiwavelength
    Trvalý linkhttp://hdl.handle.net/11104/0280935
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.