Počet záznamů: 1
X-ray analysis of fully depleted CCDs with small pixel size
- 1.
SYSNO 0485070 Název X-ray analysis of fully depleted CCDs with small pixel size Tvůrce(i) Kotov, I.V. (US)
Haupt, J. (US)
Kubánek, Petr (FZU-D) RID
O'Connor, P. (US)
Takacs, P. (US)Zdroj.dok. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A. Roč. 787, Jul (2015), s. 12-19. - : Elsevier Druh dok. Článek v odborném periodiku Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 Jazyk dok. eng Země vyd. NL Klíč.slova charge diffusion * Charge transfer efficiency * CTE * CCD Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0280173
Počet záznamů: 1