Supersensitive surface imaging with very slow secondary electrons

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0482727
Název	Supersensitive surface imaging with very slow secondary electrons
Tvůrce(i)	Mikmeková, Šárka (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Konvalina, Ivo (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Tsukiori, D. (JP) Arai, R. (JP) Takano, M. (JP) Okuda, K. (JP) Müllerová, Ilona (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Frank, Luděk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Zdroj.dok.	The 3rd East-Asia Microscopy Conference. Abstract Proceeding. - Seoul : Korean Society of Microscopy, 2017
Konference	East-Asia Microscopy Conference /3./, 07.11.2017 - 10.11.2017, Busan
Druh dok.	Abstrakt
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	KR
Klíč.slova	supersensitive surface * very slow secondary electrons
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0278110

Počet záznamů: 1