Počet záznamů: 1  

Xenon focused ion beam in the shape memory alloys investigation – the case of NiTi and CoNiAl

  1. 1.
    SYSNO0481772
    NázevXenon focused ion beam in the shape memory alloys investigation – the case of NiTi and CoNiAl
    Tvůrce(i) Kopeček, Jaromír (FZU-D) RID, ORCID
    Jurek, Karel (FZU-D) RID
    Kopecký, Vít (FZU-D)
    Klimša, Ladislav (FZU-D)
    Seiner, Hanuš (UT-L) RID
    Sedlák, Petr (UT-L) RID
    Landa, Michal (UT-L) RID
    Dluhoš, J. (CZ)
    Petrenec, M. (CZ)
    Hladík, L. (CZ)
    Doupal, A. (CZ)
    Heczko, Oleg (FZU-D) RID
    Zdroj.dok. Microscopy and Microanalysis. Roč. 20, Aug (2014), s. 335-336
    Druh dok.Článek v odborném periodiku
    Grant GA14-03044S GA ČR - Grantová agentura ČR, CZ - Česká republika
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271 ; UT-L - RVO:61388998
    Jazyk dok.eng
    Země vyd.US
    Klíč.slova scanning electron microscope * SEM * focused ion beam * FIB * xenon plasma focused ion beam * dual beam * shape memory alloy * SMA
    Trvalý linkhttp://hdl.handle.net/11104/0277259