What’s next in Scanning Low Energy Electron Microscopy?

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0481148
Název	What’s next in Scanning Low Energy Electron Microscopy?
Tvůrce(i)	Müllerová, Ilona (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Mikmeková, Šárka (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Mikmeková, Eliška (UPT-D)_RID Frank, Luděk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Zdroj.dok.	Sources, Interaction with Matter, Detection and Analysis of Low Energy Electrons (SIMDALEE2017). Book of Abstracts. S. 22. - Wien : Technische Universitaet Wien, 2017
Konference	SIMDALEE2017. Sources, Interaction with Matter, Detection and Analysis of Low Energy Electrons, 18.09.2017 - 22.09.2017, Pula
Druh dok.	Abstrakt
Grant	TE01020118 GA TA ČR - Technologická agentura ČR, CZ - Česká republika
	606988, XE - země EU
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	AT
Klíč.slova	SLEEM * primary beam energy * signal electrons
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0276751

Počet záznamů: 1