Počet záznamů: 1
Profilometry of thin films on rough substrates by Raman spectroscopy
- 1.
SYSNO 0469174 Název Profilometry of thin films on rough substrates by Raman spectroscopy Tvůrce(i) Ledinský, Martin (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Paviet-Salomon, B. (CH)
Vetushka, Aliaksi (FZU-D) RID, ORCID
Geissbühler, J. (CH)
Tomasi, A. (CH)
Despeisse, M. (CH)
De Wolf, S. (SA)
Ballif, C. (CH)
Fejfar, Antonín (FZU-D) RID, ORCID, SAIZdroj.dok. Scientific Reports. Roč. 6, Dec (2016), s. 1-7. - : Nature Publishing Group Číslo článku 37859 Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant LM2015087 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy GA14-15357S GA ČR - Grantová agentura ČR 727523 NextBase, XE - země EU Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 Jazyk dok. eng Země vyd. GB Klíč.slova solar cells * surfaces * interfaces and thin films * two-dimensional materials Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0267018 Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup 0469174.pdf 9 1.1 MB CC licence Vydavatelský postprint povolen
Počet záznamů: 1