Počet záznamů: 1
DBR diode based laser source working at 633 nm for dimensional nanometrology
- 1.
SYSNO 0467526 Název DBR diode based laser source working at 633 nm for dimensional nanometrology Tvůrce(i) Řeřucha, Šimon (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Pham, Minh Tuan (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Čížek, Martin (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Hucl, Václav (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Lazar, Josef (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Číp, Ondřej (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Yacoot, A. (GB)Zdroj.dok. NanoScale 2016. 11th Seminar on Quantitative Microscopy (QM) and 7th Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods. S. 109-110. - Wroclaw : Wroclaw University of Technology, 2016 Konference NanoScale 2016. Seminar on Quantitative Microscopy (QM) /11./ and Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods /7./, 09.03.2016 - 11.03.2016, Wroclaw Druh dok. Abstrakt Grant LO1212 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy GB14-36681G GA ČR - Grantová agentura ČR TE01020233 GA TA ČR - Technologická agentura ČR Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 Jazyk dok. eng Země vyd. PL Klíč.slova laser metrology * DBR laser diode * laser interferometry * displacement metrology * laser system Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0265622
Počet záznamů: 1