Počet záznamů: 1
Difraction in a scanning electron microscopie
- 1.
SYSNO 0460211 Název Difraction in a scanning electron microscopie Tvůrce(i) Řiháček, Tomáš (UPT-D) RID, ORCID
Mika, Filip (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Matějka, Milan (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Krátký, Stanislav (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCIDZdroj.dok. Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. S. 56-57. - Brno : Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 / Mika Filip Konference International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./, 29.05.2016 - 03.06.2016, Skalský dvůr Druh dok. Konferenční příspěvek (zahraniční konf.) Grant TE01020118 GA TA ČR - Technologická agentura ČR, CZ - Česká republika LO1212 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 Jazyk dok. eng Země vyd. CZ Klíč.slova electron microscopy * TEM * STEM URL http://www.trends.isibrno.cz/ Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0260343
Počet záznamů: 1