Počet záznamů: 1

Difraction in a scanning electron microscopie

SYSNO	0460211
Název	Difraction in a scanning electron microscopie
Tvůrce(i)	Řiháček, Tomáš (UPT-D)_{RID, ORCID} Mika, Filip (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Matějka, Milan (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Krátký, Stanislav (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Müllerová, Ilona (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Zdroj.dok.	Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. S. 56-57. - Brno : Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 / Mika Filip
Konference	International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./, 29.05.2016 - 03.06.2016, Skalský dvůr
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	TE01020118 GA TA ČR - Technologická agentura ČR, CZ - Česká republika
	LO1212 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
	ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	CZ
Klíč.slova	electron microscopy * TEM * STEM
URL	http://www.trends.isibrno.cz/
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0260343

Počet záznamů: 1