Scanning very low energy electron microscopy for the characterization of polycrystalline metal samples

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0460209
Název	Scanning very low energy electron microscopy for the characterization of polycrystalline metal samples
Tvůrce(i)	Pokorná, Zuzana (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Knápek, Alexandr (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI}
Zdroj.dok.	Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. S. 48-49. - Brno : Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 / Mika Filip
Konference	International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./, 29.05.2016 - 03.06.2016, Skalský dvůr
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	CZ
Klíč.slova	electron microscopy * SEM * crystallographic orientation
URL	http://www.trends.isibrno.cz/
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0260341

Počet záznamů: 1