Počet záznamů: 1  

Characterization of amorphous and microcrystalline Si layers and ZnO layers on glass

    1.
    SYSNO0458106
    NázevCharacterization of amorphous and microcrystalline Si layers and ZnO layers on glass
    Tvůrce(i) Vaněček, Milan (FZU-D) RID
    Holovský, Jakub (FZU-D) RID, ORCID
    Poruba, Aleš (FZU-D) RID
    Remeš, Zdeněk (FZU-D) RID, ORCID
    Purkrt, Adam (FZU-D) RID
    Vyd. údajePraha: Tel Solar AG, Trübbach, Switzerland, 2015
    Druh dok.Výzkumná zpráva
    Grantneveřejné zdroje
    Jazyk dok.eng
    Země vyd.CZ
    Klíč.slova optical properties * amorphous silicon * microcrystalline silicon * ZnO
    Trvalý linkhttp://hdl.handle.net/11104/0258426
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.

Přijmout všeNastaveníOdmítnout vše