Electron beam induced mass loss dependence on aging of Epon resin sections

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0452276
Název	Electron beam induced mass loss dependence on aging of Epon resin sections
Tvůrce(i)	Skoupý, Radim (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Krzyžánek, Vladislav (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Kočová, L. (CZ) Nebesářová, Jana (BC-A)_{RID, ORCID}
Zdroj.dok.	12th Multinational Congress on Microscopy. S. 112-113. - Budapest : Akadémiai Kiadó, 2015
Konference	MCM 2015. Multinational Congress on Microscopy /12./, Eger, 23.08.2015-28.08.2015
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	GA14-20012S GA ČR - Grantová agentura ČR, CZ - Česká republika
	LO1212 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
	ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731 ; BC-A - RVO:60077344
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	HU
Klíč.slova	STEM * mass loss * resin * Epon
Spolupracující instituce	Biologické centrum AV ČR (Česká republika)
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0253305

Počet záznamů: 1