Počet záznamů: 1
Low-frequency noise measurements used for quality assessment of GaSb based laser diodes prepared by molecular beam epitaxy
- 1.
SYSNO 0450842 Název Low-frequency noise measurements used for quality assessment of GaSb based laser diodes prepared by molecular beam epitaxy Tvůrce(i) Chobola, Z. (CZ)
Luňák, M. (CZ)
Vaněk, J. (CZ)
Hulicius, Eduard (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Kusák, I. (CZ)Zdroj.dok. Journal of Electrical Engineering. Roč. 66, č. 4 (2015), s. 226-230 Druh dok. Článek v odborném periodiku Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 Jazyk dok. eng Země vyd. CZ Klíč.slova silicon solar-cells * electrical noise * tool Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0252049
Počet záznamů: 1