Počet záznamů: 1
Examination of Graphene in a Scanning Low Energy Electron Microscope
- 1.
SYSNO 0450818 Název Examination of Graphene in a Scanning Low Energy Electron Microscope Tvůrce(i) Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Mikmeková, Eliška (UPT-D) RID
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCIDZdroj.dok. Microscopy and Microanalysis. Roč. 21, S3 (2015), s. 29-30. - : Cambridge University Press Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant LO1212 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 Jazyk dok. eng Země vyd. US Klíč.slova graphene * LEEM Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0257504
Počet záznamů: 1