Počet záznamů: 1  

Examination of Graphene in a Scanning Low Energy Electron Microscope

  1. 1.
    SYSNO0450818
    NázevExamination of Graphene in a Scanning Low Energy Electron Microscope
    Tvůrce(i) Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Mikmeková, Eliška (UPT-D) RID
    Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Zdroj.dok. Microscopy and Microanalysis. Roč. 21, S3 (2015), s. 29-30. - : Cambridge University Press
    Druh dok.Článek v odborném periodiku
    Grant LO1212 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
    Institucionální podporaUPT-D - RVO:68081731
    Jazyk dok.eng
    Země vyd.US
    Klíč.slova graphene * LEEM
    Trvalý linkhttp://hdl.handle.net/11104/0257504
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.