Short-Range Six-Axis Interferometer Controlled Positioning for Scanning Probe Microscopy

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0444439
Název	Short-Range Six-Axis Interferometer Controlled Positioning for Scanning Probe Microscopy
Tvůrce(i)	Lazar, Josef (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Klapetek, P. (CZ) Valtr, M. (CZ) Hrabina, Jan (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Buchta, Zdeněk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Číp, Ondřej (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Čížek, Martin (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Oulehla, Jindřich (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Šerý, Mojmír (UPT-D)_{RID, SAI}
Zdroj.dok.	Sensors. Roč. 14, č. 1 (2014), s. 877-886. - : MDPI
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Grant	GPP102/11/P820 GA ČR - Grantová agentura ČR
	ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	EE2.4.31.0016 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	TA02010711 GA TA ČR - Technologická agentura ČR
	TE01020233 GA TA ČR - Technologická agentura ČR
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	CH
Klíč.slova	nanometrology * nanopositioning interferometry * AFM * nanoscale
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0246959

Počet záznamů: 1