Počet záznamů: 1
Ultra-fast three dimensional microanalysis using the scanning electron microscope equipped with xenon plasma focused ion beam
- 1.
SYSNO 0432741 Název Ultra-fast three dimensional microanalysis using the scanning electron microscope equipped with xenon plasma focused ion beam Tvůrce(i) Dluhoš, J. (CZ)
Petrenec, M. (CZ)
Peřina, P. (CZ)
Reinauer, F. (DE)
Kopeček, Jaromír (FZU-D) RID, ORCID
Hrnčíř, T. (CZ)
Jiruše, J. (CZ)Zdroj.dok. Proceedings of 18th International Microscopy Congress. - Prague : Czechoslovak Microscopy Society, 2014 / Hozák P. Konference International Microscopy Congress /18./, Prague, 07.09.2014-12.09.2014 Druh dok. Abstrakt Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 Jazyk dok. eng Klíč.slova SEM * FIB * xenon Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0237116
Počet záznamů: 1