Počet záznamů: 1
Study of silicon nanostructures by microscopic methods
- 1.
SYSNO 0432079 Název Study of silicon nanostructures by microscopic methods Tvůrce(i) Hývl, Matěj (FZU-D) ORCID Vyd. údaje Praha: ČVUT, 2014 Akademická hodnost získaná prací Ing. Název pracoviště České vysoké učení technické v Praze, Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská Druh dok. Dizertace Grant M100101216, CZ - Česká republika FR-TI2/736 GA MPO - Ministerstvo průmyslu a obchodu GA13-12386S GA ČR - Grantová agentura ČR LM2011026 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika GB14-37427G GA ČR - Grantová agentura ČR Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 Jazyk dok. eng Země vyd. CZ Klíč.slova silicon nanostructures * AFM * Raman intensity mapping * nanoindentation * radial junctions * Si NWs * LPC polycrystalline silicon thin films Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0236555
Počet záznamů: 1