Počet záznamů: 1

Měření záchytu světla pomocí Ramanovy spektroskopie v tenkých vrstvách křemíku

SYSNO	0427287
Název	Měření záchytu světla pomocí Ramanovy spektroskopie v tenkých vrstvách křemíku
Tvůrce(i)	Ledinský, Martin (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Ganzerová, Kristína (FZU-D)_RID Fejfar, Antonín (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Kočka, Jan (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI}
Zdroj.dok.	Sborník 8. české fotovoltaické konference. - Rožnov pod Radhoštěm : Czech RE Agency, o.p.s, 2013
Konference	Česká fotovoltaická konference /8./, Brno, 14.05.2013-15.05.2013
Druh dok.	Abstrakt
Grant	M100101216, CZ - Česká republika
	M100101217, CZ - Česká republika
	FR-TI2/736 GA MPO - Ministerstvo průmyslu a obchodu
	GA13-25747S GA ČR - Grantová agentura ČR
	GA13-12386S GA ČR - Grantová agentura ČR
	LM2011026 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
Institucionální podpora	FZU-D - RVO:68378271
Jazyk dok.	cze
Země vyd.	CZ
Klíč.slova	Raman * microcrystalline silicon, * atomic force microscopy
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0232878

Počet záznamů: 1