Počet záznamů: 1
Měření záchytu světla pomocí Ramanovy spektroskopie v tenkých vrstvách křemíku
- 1.
SYSNO 0427287 Název Měření záchytu světla pomocí Ramanovy spektroskopie v tenkých vrstvách křemíku Tvůrce(i) Ledinský, Martin (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Ganzerová, Kristína (FZU-D) RID
Fejfar, Antonín (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Kočka, Jan (FZU-D) RID, ORCID, SAIZdroj.dok. Sborník 8. české fotovoltaické konference. - Rožnov pod Radhoštěm : Czech RE Agency, o.p.s, 2013 Konference Česká fotovoltaická konference /8./, Brno, 14.05.2013-15.05.2013 Druh dok. Abstrakt Grant M100101216, CZ - Česká republika M100101217, CZ - Česká republika FR-TI2/736 GA MPO - Ministerstvo průmyslu a obchodu GA13-25747S GA ČR - Grantová agentura ČR GA13-12386S GA ČR - Grantová agentura ČR LM2011026 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 Jazyk dok. cze Země vyd. CZ Klíč.slova Raman * microcrystalline silicon, * atomic force microscopy Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0232878
Počet záznamů: 1