Počet záznamů: 1
GaN surface polarity determination by photoelectron diffraction
- 1.
SYSNO 0420859 Název GaN surface polarity determination by photoelectron diffraction Tvůrce(i) Romanyuk, Olexandr (FZU-D) RID, ORCID
Jiříček, Petr (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Paskova, T. (US)
Bartoš, Igor (FZU-D) RID, ORCIDZdroj.dok. International Vacuum Congress /19./ Abstracts. S. 68-69. - Paris : IUVSTA, 2013 Konference International Vacuum Congress /19./, Paris, 09.09.2013-13.09.2013 Druh dok. Abstrakt Grant M100101201, CZ - Česká republika Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 Jazyk dok. eng Země vyd. FR Klíč.slova GaN * nitride * semipolar * photoelectron Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0227329
Počet záznamů: 1