Počet záznamů: 1
Atomic force microscopy as a powerful tool of surface nano- and microscale characterization
- 1.
SYSNO 0395796 Název Atomic force microscopy as a powerful tool of surface nano- and microscale characterization Tvůrce(i) Špírková, Milena (UMCH-V) [MATER] RID, ORCID Zdroj.dok. Programme and The Book of Abstracts. S. 13. - Herceg Novi : Materials Research Society of Serbia, 2013 Konference Annual Conference YUCOMAT 2013 /15./, Herceg Novi, 02.09.2013-06.09.2013 Druh dok. Abstrakt Grant IAAX08240901 GA AV ČR - Akademie věd, CZ - Česká republika Institucionální podpora UMCH-V - RVO:61389013 Jazyk dok. eng Země vyd. ME Klíč.slova atomic force microscopy * surface analysis * organic - inorganic nanocomposite Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0225029
Počet záznamů: 1