Počet záznamů: 1
In-situ monitoring of the influence of inert gases (Ne, Ar, Kr, Xe) on plasma properties and the growth of magnetron sputtered nanostructured silver thin film
- 1.
SYSNO 0390588 Název In-situ monitoring of the influence of inert gases (Ne, Ar, Kr, Xe) on plasma properties and the growth of magnetron sputtered nanostructured silver thin film Tvůrce(i) Novotný, Michal (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Bulíř, Jiří (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Lančok, Ján (FZU-D) RID, ORCID
Pokorný, P. (CZ)
Piksová, K. (CZ)
Fekete, Ladislav (FZU-D) RID, ORCID
Musil, Jindřich (FZU-D) RID, ORCID
Čekada, M. (CZ)Zdroj.dok. The 8th Asian - European International Conference on Plasma Surface Engineering. AEPSE 2011. 216 O-101. - Dalian : AJC PSE, EJC PISE, 2011 / Lei M.K. Konference AEPSE 2011. The 8th Asian - European International Conference on Plasma Surface Engineering, Dalian, 19.09.2011-22.09.2011 Druh dok. Abstrakt Grant GAP108/11/1298 GA ČR - Grantová agentura ČR, CZ - Česká republika GAP108/11/0958 GA ČR - Grantová agentura ČR, CZ - Česká republika MEB091125 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika GP202/09/P324 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z10100522 - FZU-D (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. CN Klíč.slova silver * magnetron sputtering * in-situ monitoring * plasma characterization Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0219453
Počet záznamů: 1