Počet záznamů: 1  

Frequency Noise Properties of Lasers for Interferometry in Nanometrology

  1. 1.
    SYSNO0389837
    NázevFrequency Noise Properties of Lasers for Interferometry in Nanometrology
    Tvůrce(i) Hrabina, Jan (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Lazar, Josef (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Holá, Miroslava (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Číp, Ondřej (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Zdroj.dok. Sensors. Roč. 13, č. 2 (2013), s. 2206-2219. - : MDPI
    Druh dok.Článek v odborném periodiku
    Grant GPP102/11/P820 GA ČR - Grantová agentura ČR
    GA102/09/1276 GA ČR - Grantová agentura ČR
    KAN311610701 GA AV ČR - Akademie věd
    ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    LC06007 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
    Institucionální podporaUPT-D - RVO:68081731
    Jazyk dok.eng
    Země vyd.CH
    Klíč.slova nanometrology * laser noise * interferometry * nanopositioning * AFM
    Trvalý linkhttp://hdl.handle.net/11104/0218775
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.