Počet záznamů: 1
Refractive Index Compensation in Over-Determined Interferometric Systems
- 1.
SYSNO 0385287 Název Refractive Index Compensation in Over-Determined Interferometric Systems Tvůrce(i) Lazar, Josef (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Holá, Miroslava (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Číp, Ondřej (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Čížek, Martin (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Hrabina, Jan (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Buchta, Zdeněk (UPT-D) RID, SAI, ORCIDZdroj.dok. Sensors. Roč. 12, č. 10 (2012), s. 14084-14094. - : MDPI Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant GA102/09/1276 GA ČR - Grantová agentura ČR GPP102/11/P820 GA ČR - Grantová agentura ČR TA02010711 GA TA ČR - Technologická agentura ČR TE01020233 GA TA ČR - Technologická agentura ČR ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 Jazyk dok. eng Země vyd. CH Klíč.slova refractometry * nanopositioning * interferometry * nanometrology Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0214593
Počet záznamů: 1