Počet záznamů: 1
Scanning Electron Microscopy with Samples in an Electric Field
- 1.
SYSNO 0385193 Název Scanning Electron Microscopy with Samples in an Electric Field Tvůrce(i) Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Hovorka, Miloš (UPT-D)
Mikmeková, Šárka (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Mikmeková, Eliška (UPT-D) RID
Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Pokorná, Zuzana (UPT-D) RID, ORCID, SAIZdroj.dok. Materials. Roč. 5, č. 12 (2012), s. 2731-2756. - : MDPI Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant GAP108/11/2270 GA ČR - Grantová agentura ČR TE01020118 GA TA ČR - Technologická agentura ČR ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 Jazyk dok. eng Země vyd. CH Klíč.slova scanning electron microscopy * slow electrons * low energy SEM * low energy STEM * cathode lens Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0214527
Počet záznamů: 1