Scanning Electron Microscopy with Samples in an Electric Field

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0385193
Název	Scanning Electron Microscopy with Samples in an Electric Field
Tvůrce(i)	Frank, Luděk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Hovorka, Miloš (UPT-D) Mikmeková, Šárka (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Mikmeková, Eliška (UPT-D)_RID Müllerová, Ilona (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Pokorná, Zuzana (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI}
Zdroj.dok.	Materials. Roč. 5, č. 12 (2012), s. 2731-2756. - : MDPI
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Grant	GAP108/11/2270 GA ČR - Grantová agentura ČR
	TE01020118 GA TA ČR - Technologická agentura ČR
	ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	CH
Klíč.slova	scanning electron microscopy * slow electrons * low energy SEM * low energy STEM * cathode lens
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0214527

Počet záznamů: 1