Počet záznamů: 1
Very low energy scanning electron microscopy in nanotechnology
- 1.
SYSNO 0375383 Název Very low energy scanning electron microscopy in nanotechnology Tvůrce(i) Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Hovorka, Miloš (UPT-D)
Mika, Filip (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Mikmeková, Eliška (UPT-D) RID
Mikmeková, Šárka (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Pokorná, Zuzana (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCIDZdroj.dok. International Journal of Nanotechnology. Roč. 9, 8/9 (2012), s. 695-716 Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant OE08012 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy IAA100650902 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. GB Klíč.slova scanning electron microscopy * very low energy electrons * cathode lens * grain contrast * strain contrast * imaging of participates * dopant contrast * very low energy STEM * graphene Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0208054
Počet záznamů: 1