Determination of single microcrystalline silicon grains preferential crystallographic orientation by polarized Raman spectroscopy

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0373735
Název	Determination of single microcrystalline silicon grains preferential crystallographic orientation by polarized Raman spectroscopy
Tvůrce(i)	Ledinský, Martin (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Vetushka, Aliaksi (FZU-D)_{RID, ORCID} Stuchlík, Jiří (FZU-D)_{RID, ORCID} Fejfar, Antonín (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Kočka, Jan (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI}
Zdroj.dok.	XXII International Conference on Raman Spectroscopy. S. 1109-1110. - Melville : AIP, 2010 / Champion P.M. ; Ziegler L.D.
Konference	International Conference on Raman Spectroscopy /22./, 08.08.2010-13.08.2010, Boston
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	LC06040 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
	KAN400100701 GA AV ČR - Akademie věd
	LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	240826, XE - země EU
CEZ	AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011)
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	US
Klíč.slova	Raman * microcrystalline silicon * atomic force microscopy
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0206807

Počet záznamů: 1