Nanometrology Interferometric System for Local Probe Microscopy

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0368141
Název	Nanometrology Interferometric System for Local Probe Microscopy
Tvůrce(i)	Hrabina, Jan (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Lazar, Josef (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Číp, Ondřej (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Klapetek, P. (CZ)
Zdroj.dok.	Proceedings of the 20th IMEKO TC2 Symposium on Photonics in Measurement. S. 17-20. - Aachen : Shaker Verlag, 2011
Konference	IMEKO TC2 Symposium on Photonics in Measurement /20./, Linz, 16.05.2011-18.05.2011
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	LC06007 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
	KAN311610701 GA AV ČR - Akademie věd
	GA102/09/1276 GA ČR - Grantová agentura ČR
	GPP102/11/P820 GA ČR - Grantová agentura ČR
CEZ	AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	DE
Klíč.slova	atomic force microscopy (AFM) * nanometrology * nanopositioning interferometry * nanoscale * iodine cells * spectroscopy
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0202571

Počet záznamů: 1