Počet záznamů: 1
Nanometrology Interferometric System for Local Probe Microscopy
- 1.
SYSNO 0368141 Název Nanometrology Interferometric System for Local Probe Microscopy Tvůrce(i) Hrabina, Jan (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Lazar, Josef (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Číp, Ondřej (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Klapetek, P. (CZ)Zdroj.dok. Proceedings of the 20th IMEKO TC2 Symposium on Photonics in Measurement. S. 17-20. - Aachen : Shaker Verlag, 2011 Konference IMEKO TC2 Symposium on Photonics in Measurement /20./, Linz, 16.05.2011-18.05.2011 Druh dok. Konferenční příspěvek (zahraniční konf.) Grant LC06007 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika KAN311610701 GA AV ČR - Akademie věd GA102/09/1276 GA ČR - Grantová agentura ČR GPP102/11/P820 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. DE Klíč.slova atomic force microscopy (AFM) * nanometrology * nanopositioning interferometry * nanoscale * iodine cells * spectroscopy Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0202571
Počet záznamů: 1