Počet záznamů: 1  

Thin dielectric resonators for microwave characterization of films and substrates

  1. 1.
    SYSNO0368068
    NázevThin dielectric resonators for microwave characterization of films and substrates
    Tvůrce(i) Bovtun, Viktor (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Pashkov, V. (UA)
    Kempa, Martin (FZU-D) RID, ORCID
    Molchanov, V. (UA)
    Kamba, Stanislav (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Poplavko, Y. (UA)
    Yakymenko, Y. (UA)
    Zdroj.dok. Microwave and Telecommunication Technology (CriMiCo) 2011. 21th International Crimean Conference. S. 620-621. - Sevastopol : Veber, 2011 / Ermolov P.P.
    Konference International Crimean Conference "Microwave and Telecommunication Technology" /21./ (CriMiCo´2011), Sevastopol, 12.09.2011-16.09.2011
    Druh dok.Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    CEZAV0Z10100520 - FZU-D (2005-2011)
    Jazyk dok.eng
    Země vyd.UA
    Klíč.slova microwave dielectric properties * thin film * dielectric resonator
    Trvalý linkhttp://hdl.handle.net/11104/0202530
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.