Počet záznamů: 1

FIB Induced Damage Examined with the Low Energy SEM

SYSNO	0365942
Název	FIB Induced Damage Examined with the Low Energy SEM
Tvůrce(i)	Mikmeková, Šárka (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Matsuda, K. (JP) Watanabe, K. (JP) Ikeno, S. (JP) Müllerová, Ilona (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Frank, Luděk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Zdroj.dok.	Materials Transactions. Roč. 52, č. 3 (2011), s. 292-296. - : Japan Institute of Metals and Materials
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Grant	OE08012 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
CEZ	AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	JP
Klíč.slova	scanning low energy electron microscopy * focused ion beam * beam induced damage * sputtering
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0201068

Počet záznamů: 1