Počet záznamů: 1
Damage mechanisms of MoN/SiN multilayer optics for next-generation pulsed XUV light sources
- 1.
SYSNO 0359322 Název Damage mechanisms of MoN/SiN multilayer optics for next-generation pulsed XUV light sources Tvůrce(i) Sobierajski, R. (PL)
Bruijn, S. (NL)
Khorsand, A.R. (NL)
Louis, E. (NL)
van de Kruijs, R.W.E. (NL)
Burian, Tomáš (FZU-D) RID, ORCID
Chalupský, Jaromír (FZU-D) RID, ORCID
Cihelka, Jaroslav (FZU-D)
Gleeson, A. (GB)
Grzonka, J. (PL)
Gullikson, E.M. (US)
Hájková, Věra (FZU-D) RID, ORCID
Hau-Riege, S. (US)
Juha, Libor (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Jurek, M. (PL)
Klinger, D. (PL)
Krzywinski, J. (US)
London, R. (US)
Pelka, J. B. (PL)
Płociński, T. (PL)
Rasiński, M. (PL)
Tiedtke, K. (DE)
Toleikis, S. (DE)
Vyšín, Luděk (FZU-D) RID, ORCID
Wabnitz, H. (DE)
Bijkerk, F. (NL)Zdroj.dok. Optics Express. Roč. 19, č. 1 (2011), s. 193-205. - : Optical Society of America Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant KAN300100801 GA AV ČR - Akademie věd LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy LC528 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika LA08024 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy IAA400100701 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z10100523 - FZU-D (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. US Klíč.slova laser damage * thermal effects * multilayers * optical design and fabrication * free-electron lasers Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0197124
Počet záznamů: 1