Počet záznamů: 1
Probing structure and microstructure of epitaxial Ni–Mn–Ga films by reciprocal space mapping and pole figure measurements
- 1.
SYSNO 0353131 Název Probing structure and microstructure of epitaxial Ni–Mn–Ga films by reciprocal space mapping and pole figure measurements Tvůrce(i) Ge, Y. (FI)
Heczko, Oleg (FZU-D) RID, ORCID
Hannula, S.-P. (FI)
Fähler, S. (DE)Zdroj.dok. Acta Materialia. Roč. 58, č. 20 (2010), 6665-6671. - : Elsevier Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant M100100913, CZ - Česká republika CEZ AV0Z10100520 - FZU-D (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. GB Klíč.slova reciprocal space mapping * thin film * Ni–Mn–Ga * martensite * magnetic shape memory Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0192458
Počet záznamů: 1