DFB Laser Source at 760 nm Wavelength for Nanometrology

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0352188
Název	DFB Laser Source at 760 nm Wavelength for Nanometrology
Tvůrce(i)	Mikel, Břetislav (UPT-D)_{RID, SAI} Buchta, Zdeněk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Lazar, Josef (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Číp, Ondřej (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Zdroj.dok.	Proceedings of the International Conference on Nanotechnology: Fundamentals and Applications. 277: 1-8. - Ottawa : International ASET, 2010
Konference	Nanotechnology: Fundamentals and Applications, Ottawa, 04.08.2010-06.08.2010
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	2A-1TP1/127 GA MPO - Ministerstvo průmyslu a obchodu
	ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	GP102/09/P293 GA ČR - Grantová agentura ČR
	GP102/09/P630 GA ČR - Grantová agentura ČR
CEZ	AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	CA
Klíč.slova	DFB laser diode * nanometrology * stabilization * tuneability
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0191760

Počet záznamů: 1