Počet záznamů: 1
DFB Laser Source at 760 nm Wavelength for Nanometrology
- 1.
SYSNO 0352188 Název DFB Laser Source at 760 nm Wavelength for Nanometrology Tvůrce(i) Mikel, Břetislav (UPT-D) ORCID, RID, SAI
Buchta, Zdeněk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Lazar, Josef (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Číp, Ondřej (UPT-D) RID, SAI, ORCIDZdroj.dok. Proceedings of the International Conference on Nanotechnology: Fundamentals and Applications. 277: 1-8. - Ottawa : International ASET, 2010 Konference Nanotechnology: Fundamentals and Applications, Ottawa, 04.08.2010-06.08.2010 Druh dok. Konferenční příspěvek (zahraniční konf.) Grant 2A-1TP1/127 GA MPO - Ministerstvo průmyslu a obchodu ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy GP102/09/P293 GA ČR - Grantová agentura ČR GP102/09/P630 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. CA Klíč.slova DFB laser diode * nanometrology * stabilization * tuneability Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0191760
Počet záznamů: 1