Effects of Ni+ ion implantation and post annealing in PEEK, PET and PI: the morphology, the microstructure and the electric properties

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0351882
Název	Effects of Ni+ ion implantation and post annealing in PEEK, PET and PI: the morphology, the microstructure and the electric properties
Tvůrce(i)	Macková, Anna (UJF-V) [ONF]_{RID, ORCID, SAI} Malinský, Petr (UJF-V) [ONF]_{RID, ORCID, SAI} Hnatowicz, Vladimír (UJF-V) [ONF]_RID Khaibullin, R. I. (RU) Slepička, P. (CZ) Švorčík, V. (CZ) Šlouf, Miroslav (UMCH-V) [MATER]_{RID, ORCID} Peřina, Vratislav (UJF-V) [ONF]_RID
Zdroj.dok.	17th International conference on ion beam modification of materials, book of abstracts, P2-4-146. Roč. 2010 (2010), s. 127-127. - 2010
Konference	17th international conference on ion beam modification of materials, Montreal, 22.08.2010-27.08.2010
Druh dok.	Abstrakt
Grant	KAN400480701 GA AV ČR - Akademie věd, CZ - Česká republika
	GA106/09/0125 GA ČR - Grantová agentura ČR
CEZ	AV0Z10480505 - UJF-V (2005-2011)
	AV0Z40500505 - UMCH-V (2005-2011)
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	CA
Klíč.slova	Ni ion implantation * polymers * depth profiles * RBS * TEM * AFM
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0191527

Počet záznamů: 1