Počet záznamů: 1
3D characterization of material structure using scanning electron microscopy (SEM) and focused ion beam (FIB)
- 1.
SYSNO 0351718 Název 3D characterization of material structure using scanning electron microscopy (SEM) and focused ion beam (FIB) Tvůrce(i) Hradilová, Monika (FZU-D)
Jäger, Aleš (FZU-D) RID, ORCID
Lejček, Pavel (FZU-D) RID, ORCID, SAIZdroj.dok. Metal 2010 - 19th international conference on metallurgy and materials. S. 152-153. - Ostrava : Tanger s.r.o, 2010 Konference Metal 2010, Rožnov pod Radhoštěm, 18.05.2010-20.05.2010 Druh dok. Konferenční příspěvek (zahraniční konf.) CEZ AV0Z10100520 - FZU-D (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. CZ Klíč.slova scanning electron microscopy * focused ion beam * 3D characterization Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0191410
Počet záznamů: 1