3D characterization of material structure using scanning electron microscopy (SEM) and focused ion beam (FIB)

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0351718
Název	3D characterization of material structure using scanning electron microscopy (SEM) and focused ion beam (FIB)
Tvůrce(i)	Hradilová, Monika (FZU-D) Jäger, Aleš (FZU-D)_{RID, ORCID} Lejček, Pavel (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI}
Zdroj.dok.	Metal 2010 - 19th international conference on metallurgy and materials. S. 152-153. - Ostrava : Tanger s.r.o, 2010
Konference	Metal 2010, Rožnov pod Radhoštěm, 18.05.2010-20.05.2010
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
CEZ	AV0Z10100520 - FZU-D (2005-2011)
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	CZ
Klíč.slova	scanning electron microscopy * focused ion beam * 3D characterization
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0191410

Počet záznamů: 1