Počet záznamů: 1
Non-destructive Depth Profiling of the Activated Ti-Zr-V Getter by Means of Excitation Energy Resolved Photoelectron Spectroscopy
- 1.
SYSNO 0343393 Název Non-destructive Depth Profiling of the Activated Ti-Zr-V Getter by Means of Excitation Energy Resolved Photoelectron Spectroscopy Tvůrce(i) Pavluch, J. (CZ)
Zommer, L. (PL)
Mašek, K. (CZ)
Skála, T. (IT)
Šutara, F. (CZ)
Nehasil, V. (CZ)
Píš, I. (CZ)
Polyak, Yaroslav (UFCH-W)Zdroj.dok. Analytical Sciences. Roč. 26, č. 2 (2010), s. 209-215 Druh dok. Článek v odborném periodiku CEZ AV0Z40400503 - UFCH-W (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. JP Klíč.slova non-evaporable getter materials * XPS methods Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0185884
Počet záznamů: 1