Počet záznamů: 1
Noncontact Atomic Force Microscopy. Volume 2
- 1.
SYSNO 0342573 Název Basic mechanisms for single atom manipulation in semiconductor systems with the FM-AFM Tvůrce(i) Pou, P. (ES)
Jelínek, Pavel (FZU-D) RID, ORCID
Pérez, R. (ES)Zdroj.dok. Noncontact Atomic Force Microscopy. Volume 2. S. 227-248. - Berlin : Springer, 2009 / Morita S. ; Giessibl F.J. ; Wiesendanger R. ISBN 978-3-642-01494-9 Edice Nanoscience and Technology Druh dok. Část monografie, knihy (kapitola) Grant GA202/09/0775 GA ČR - Grantová agentura ČR IAA100100905 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. DE Klíč.slova AFM * DFT simulation * atomic manipulation Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0185275
Počet záznamů: 1